M9 實驗室型
品牌:?SUEZ
型號:?TOC M9
產(chǎn)地:?美國
型號:INVENIO 傅立葉變換紅外光譜儀
產(chǎn)地:?德國">
適用于常規(guī)、研發(fā)的先進FT-IR分析——INVENIO? 傅立葉變換紅外光譜儀
INVENIO?適用于幾乎所有應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè),從常規(guī)質(zhì)量控制到先進的研發(fā)工作。無論您專注于高效、或者必須符合規(guī)定,INVENIO總能全方位支持您!
創(chuàng)新特性
?全新設(shè)計的光束路徑帶來優(yōu)異的信噪比
?嵌入式觸摸屏PC用于快且高效的FT-IR分析(可選)
?第二個樣品室可額外支持一種實驗設(shè)置(TransitTM)
?創(chuàng)新的 MultiTect? 支持多達5個室溫檢測器,內(nèi)部可配備多達7個自動檢測器
?新型無磨損調(diào)節(jié) INTEGRAL? 干涉儀含三位分束器自動切換組件
?現(xiàn)代 SoC 電子元件使用戶能夠分辨小的光譜特征
?獨特的BRUKER FM檢測技術(shù)可以一次性收集遠、中紅外光譜
?從 FIR 到 VIS/UV 以及時間分辨光譜
應(yīng)用領(lǐng)域
INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級性的情景,從而改善您在工業(yè)或研究應(yīng)用領(lǐng)域的日常分析體驗。
質(zhì)量控制
原料驗證
產(chǎn)品缺陷故障排除
識別未知污染物
材料表征
揮發(fā)性成分的測定
分解過程表征
光學(xué)材料表征
半導(dǎo)體
硅晶圓中氧和碳含量測定
近紅外光譜范圍的光致發(fā)光測量
研發(fā)
時間分辨光譜學(xué)
傅立葉變換紅外光譜電化學(xué)
低溫實驗
傅立葉變換紅外顯微及化學(xué)成像
原位反應(yīng)監(jiān)測
幅度調(diào)制(AM)光譜
制藥與生命科學(xué)
評估醫(yī)藥產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量
區(qū)分活性藥物成分的多晶型
蛋白質(zhì)構(gòu)象和濃度
微生物鑒定
聚合物和化學(xué)品
識別聚合物復(fù)合材料中的無機填料
識別無機礦物質(zhì)和色素
多層分析
配方研究
反應(yīng)監(jiān)測和反應(yīng)控制
聚合物動態(tài)和流變-光學(xué)研究
傅立葉變換拉曼在各領(lǐng)域的應(yīng)用
環(huán)境
污染監(jiān)測(如微塑料)
土壤表征
參數(shù)
1、 光譜范圍:可擴展到28,000-15cm-1.
2、 分辨率:2.0cm-1(0.8cm-1)
3、波數(shù)準(zhǔn)確度:0.05cm-1
4、波數(shù)精度:0.0005 cm-1
5、信/噪比:高于55,000:1(1分鐘測試,4cm-1分辨率)